安徽晶振的测试

各种逻辑芯片的晶振引脚可以等效为电容三点式振荡器。晶振引脚的内部通常是一个反相器， 或者是奇数个反相器串联。在晶振输出引脚 XO 和晶振输入引脚 XI 之间用一个电阻连接， 对于 CMOS 芯片通常是数 M 到数十 M 欧之间。很多芯片的引脚内部已经包含了这个电阻， 引脚外部就不用接了。这个电阻是为了使反相器在振荡初始时处与线性状态， 反相器就如同一个有很大增益的放大器， 以便于起振。石英晶体也连接在晶振引脚的输入和输出之间， 等效为一个并联谐振回路， 振荡频率应该是石英晶体的并联谐振频率。晶体旁边的两个电容接地， 实际上就是电容三点式电路的分压电容， 接地点就是分压点。以接地点即分压点为参考点， 振荡引脚的输入和输出是反相的， 但从并联谐振回路即石英晶体两端来看， 形成一个正反馈以保证电路持续振荡。在芯片设计时， 这两个电容就已经形成了， 一般是两个的容量相等， 容量大小依工艺和版图而不同， 但终归是比较小， 不一定适合很宽的频率范围。外接时大约是数 PF 到数十 PF， 依频率和石英晶体的特性而定。需要注意的是：这两个电容串联的值是并联在谐振回路上的， 会影响振荡频率。当两个电容量相等时， 反馈系数是 0.5， 一般是可以满足振荡条件的。下游推动需求释放，晶振市场空间广阔。安徽晶振的测试

晶振输入输出连接的电阻作用是产生负反馈，保证放大器工作在高增益的线性区，一般在M欧级，输出端的电阻与负载电容组成网络，提供180度相移，同时起到限流的作用，防止反向器输出对晶振过驱动，损坏晶振。和晶振串联的电阻常用来预防晶振被过分驱动。晶振过分驱动的后果是将逐渐损耗减少晶振的接触电镀，这将引起频率的上升，并导致晶振的早期失效，又可以讲drivelevel调整用。用来调整drivelevel和发振余裕度。Xin和Xout的内部一般是一个施密特反相器，反相器是不能驱动晶体震荡的.因此，在反相器的两端并联一个电阻，由电阻完成将输出的信号反向180度反馈到输入端形成负反馈，构成负反馈放大电路.晶体并在电阻上，电阻与晶体的等效阻抗是并联关系，自己想一下是电阻大还是电阻小对晶体的阻抗影响小大?贵州yxc晶振国产高基频晶振通过高通认证，高基频国产替代需求爆发。

恒温控制晶体振荡器(OCXO)对于某些应用，TCXO的频率-温度稳定度指标仍无法满足要求。在这些情况下，可能需要OCXO。顾名思义，具有烤腔的振荡器将晶体加热到更高温度，但仍受控制，使得环境温度即使变化大，晶体的温度也保持稳定。由于晶体的温度和振荡器的敏感部份变化很小，频率-环境温度稳定度得到显着改善。在环境温度范围内，OCXO的稳定度可以达到0.001ppm。然而，这种稳定度的提升是以增加功耗为代价的，将热量提供给烤腔当然需要能量。典型的OCXO可能需要1到5W的功率以维持内部温度。在开机后，还需要等待温度和频率稳定的暖机时间，取决于晶体振荡器的类型，暖机时长通常从1分钟到10多分钟。

根据草根调研及互联网公开资料进行整理，我们以单部低端3G手机的晶振需求为3颗、4G智能机晶振需求为6 颗、5G手机晶振需求为8颗计算，得出2022年国内手机厂商晶振总需求为35.2亿颗，市场规模约23.85亿元。国内微型计算机市场产能旺盛，支撑着上游晶体谐振器产业发展。根据国家统计局数据，2018年我国电子计算机产量为3.52亿台，微型计算机产量为3.07亿台。电子计算机继续保持较高的出货量，对频率元件需求旺盛。根据公开资料及市场调研得知，电脑主板中包含频率为14.318MHz的时钟晶振和频率为32.768KHz的实时晶振,另外显示器、摄像头、蓝牙、无线WIFI、声卡、硬盘、键盘各连接一颗高频晶振。按照每台计算机使用9颗石英晶体谐振器，每颗晶振平均价格为0.2元计算，微型计算机生产商每年总共需要约27亿颗晶体谐振器，所有电子计算机厂商每年则需要约31亿颗晶体谐振器，市场规模为6.2亿元。晶体振荡器也分为无源晶振和有源晶振两种类型。

既然晶体两端非常敏感，不便于接上探头测量，那可以换一种思路，在其他地方测量该信号。某些时钟芯片带clockout功能，此功能是buffer晶体的信号，其管脚的输出是有很强大的驱动能力的，因此可以直接使用探头测量。晶体发出的时钟输入到处理器中，可以使用计时器对此信号作分频处理，然后将分频后的信号输出到管脚。这样我们只需测量分频后的信号，即可计算出原有时钟的频率。这种间接测试的方法，只能测试晶体的频率，不能测量晶体输出信号的幅度。若能在设备的工况范围都测试其频率的准确性，那晶体电路的工作就是OK的。行业观察|晶振部分产品价格翻番。青海晶振原理

晶体通过压电效应产生特定频率信号。安徽晶振的测试

AT切型晶振缺陷：传统机械加工难以满足严格的公差要求。AT切割是目前使用量较大的石英晶体类型之一，常用于高频晶振。典型的超小型胚料尺寸小于3.5*0.63mm，加工难度大幅增加。大规模生产小型晶体时，需要将公差控制在2um以内，而传统机械加工难以满足严格的公差要求。超高频晶振缺陷：多次倍频导致相噪损失严重。晶振工作频率通常与晶片厚度成反比，传统机械加工适合的频率范围为1-40MHz（对应晶片厚度0.04mm）。以传统方式生产百MHz晶振需要将晶片加工至超薄，从而导致出现稳定性差及易破损的缺点。因此，生产百兆赫兹高频晶振通常采用10MHz成熟产品作为基准频率源，并经过多次倍频获得所需信号。但这样导致电路复杂，相噪损失严重。安徽晶振的测试

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